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金相显微镜

产品型号:MX8R

简要描述:MX8R金相显微镜采用新照明系统和光学系统,照明均匀,成像清晰。突破性的大金相机架设计,可承载 8英寸超大工作平台,适用于稳固创新的机械结构更好的满足专业市场需求。

  • 企业实力

    Enterprise Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 质量保障

    Quality Assurance

详细介绍

全新的 MX8R半导体检查金相显微镜,最大支持 300mm 晶圆及 17英寸液晶面板的检查,含 6、8、12英寸多种转盘,可适用不同尺寸的晶圆检查。人机工程学设计全面提升,为用户提供更加舒适、灵活、快捷的操作体验。

金相显微镜

1.多档分光比观察头设计:全新 MX8R 观察筒,采用宽光束成像系统设计,最大观察视野,支持 26.5mm ,带给您全新的大视野体验。

2.安全稳固的机架结构:机身采用低重心、高刚性、高稳定性全金属型工业检测专用机架,具备抗震、吸震能力,保证观察图像的稳定性。

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3.大行程机械移动平台:采用三层机械移动平台,可适用于相应尺寸的晶圆或 FPD 检测、电路封装、电路基板、材料、铸件金属陶瓷部件、精密磨具的检测、可观察较厚的标本。

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4.大视野目镜:配置 25mm 宽视野目镜,相对于常规 22mm 的视场范围,视野更加平坦、宽广,并且视场边缘都能保证清晰明亮,给用户更加舒适的视觉感受。提供更加平坦的观察范围,提高工作效率。更大值域屈光度调节范围可满足更多用户的使用需求。

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5.长工作距物镜:配置全套专业半复消色差金相物镜,采用高透过率镜片和先进的镀膜技术。长工作距设计,可有效避免用户在切换时物镜与样品发生碰撞。配置 20X 长工作距物镜,满足工业检测领域的需求。每个镜头均严格挑选高透过率的镜片和镀膜技术,可真实还原样品的自然色彩。

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6.诺曼尔斯基微分干涉衬比系统: MX8R半导体检查金相显微镜采用高性能微分干涉组件,可以将明场观察下无法检测的细微高低差,转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕形式表现出来,广泛用于LCD 导电粒子、精密磁盘表面划痕检测等领域。

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